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計量經(jīng)濟學教材選擇

 昵稱2892572 2011-08-07
計量經(jīng)濟學教材選擇 -----我的經(jīng)驗 作者:hgz2373294 時間:2005-5-21 16:52:00
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  • 接觸學習計量經(jīng)濟已經(jīng)大概有5年左右.感覺計量經(jīng)濟學學習教材比較多,各個層次都有,選擇合適自己的教材是很重要的,合適的教材可以事半功倍. 我最開始學習的是古扎拉蒂(第三版),這本書感覺很好,簡單易懂,現(xiàn)在已經(jīng)出了第四版,增加了PANEL DATA ,NONLINE 等,這也是目前比較流行的計量新方法.并且EVIEWS可以做.我覺得入門必讀. 然后學習Green的計量經(jīng)濟分析,感覺上面好多新東西,可就是做不出來,而且很多理論不是很懂(可能我水平不高).收獲不大.建議除非你有相關軟件,否則最好不要看這本書. 同樣哈米爾頓的<時間序列分析>,也有同樣感覺,建議相同的處理. 近來,我的興趣轉(zhuǎn)向PANEL DATA 分析.我主要使用STATA 軟件做,基本上固定效應及隨機效應及相關檢驗,還有異方差和自相關檢驗及糾正都可以做,而且很容易操作.相對來說,做雙向效應好象沒有EVIEWS 方便,但EVIEWS 沒有方便易行的固定效應及隨機效應\自相關\異方差檢驗(好象有相關程序可以做,不過我沒試過,不能評價.) Panel data 分析的相關教材比較好:伍德里奇<計量經(jīng)濟學導論>相關章節(jié),還有林光平的<計算計量經(jīng)濟>相關章節(jié).國外主要是伍德里奇<面板計量經(jīng)濟分析>和BATIGI<面板計量經(jīng)濟分析>. 希望各位朋友指教.

    精華
    作者:vio 時間:2005-5-21 18:06:00
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  • stata如何簡單方便的對panel進行自相關和異方差檢驗??我只是在stata官方網(wǎng)頁的faq中發(fā)現(xiàn)有這方面的簡單介紹,給了兩個例子,但感覺很不夠啊 感覺對panel做自相關和異方差還是比較麻煩,可能是我看的不夠多不夠深入 向樓主請教
    作者:hgz2373294 時間:2005-5-21 20:50:00
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  • 自相關 xtserial 變量1 ,....,變量異方差 XTTEST3
    作者:vio 時間:2005-5-22 0:17:00
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  • xtserial,我用過,但我有更進一步的疑問,對于如下模型: y_it=X_it*b+u_i+e_it (1)用固定效應分析(2)用隨機效應分析(3)用一階差分分析 那么一個簡單的xtserial命令得出的自相關,如何區(qū)分以上三個模型呢?如果要分別分析以上三個模型的殘差是否有自相關,光是xtserial命令肯定是不行的吧樓主還有其他的方法嗎?? XTTEST3是哪里的,我的8.0里沒有
    作者:hgz2373294 時間:2005-5-22 8:56:00
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  • 我認為這是在此之后自相關檢驗,你的模型是之前的選擇問題.而自相關什么的也沒有區(qū)別什么模型. XTTEST3可以在GOOGLE 找,我以前用過的.
    作者:vio 時間:2005-5-22 12:47:00
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  • 我可能沒有說清楚,那我就說的具體些對于如下panel模型,y_it=變量1*b1+變量2*b2.....變量n*bn++u_i+e_it 分別使用(1)(2)(3)的估計方法,顯然最后得到的殘差e_it一般是不同的,那么其自相關系數(shù)和性質(zhì)也應該還是不同的。而鍵入命令,xtserial 變量1 ,....,變量n。之后得到的只有一個關于一階自相關檢驗的結果。我看過xtserial的介紹,它是基于(3)而編寫的。而我關心的問題是,是否也存在類似的命令以實現(xiàn)對(1)(2)的殘差的自相關檢驗?? 否則要先回歸,再計算殘差,再對殘差回歸,稍微麻煩了一點。
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